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  • UIH-3D表面檢查燈目視検査用照明裝置LED強光燈

    當高強度光照射到物體上時會發生丁達爾現象(*1) ,可以通過目視輕松確認表面的劃痕和污垢以及內部的異物和氣泡。 *1:半導體晶圓、掩膜玻璃、硬盤、液晶面板、透鏡等! 表面檢查燈目視検査用照明裝置LED強光燈

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    2023-11-04

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  • UIH-3D表面檢查燈LED超高亮度光源鹵素燈

    當高強度光照射到物體上時會發生丁達爾現象(*1) ,可以通過目視輕松確認表面的劃痕和污垢以及內部的異物和氣泡。$n*1:半導體晶圓、掩膜玻璃、硬盤、液晶面板、透鏡等!$n表面檢查燈LED超高亮度光源鹵素燈

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    2023-11-22

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  • UIH-2D表面檢查燈LED超高亮度光源鹵素燈

    當高強度光照射到物體上時會發生丁達爾現象(*1) ,可以通過目視輕松確認表面的劃痕和污垢以及內部的異物和氣泡。 *1:半導體晶圓、掩膜玻璃、硬盤、液晶面板、透鏡等! 表面檢查燈LED超高亮度光源鹵素燈

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    2023-11-04

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  • UIH-1H表面檢查燈LED 超高 亮度光源 鹵素燈

    當高強度光照射到物體上時會發生丁達爾現象(*1) ,可以通過目視輕松確認表面的劃痕和污垢以及內部的異物和氣泡。 *1:半導體晶圓、掩膜玻璃、硬盤、液晶面板、透鏡等! 表面檢查燈LED 超高 亮度光源 鹵素燈

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    2024-01-04

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  • UIH-1C日本表面檢查燈 LED超高 亮度光源 鹵素燈

    當高強度光照射到物體上時會發生丁達爾現象(*1) ,可以通過目視輕松確認表面的劃痕和污垢以及內部的異物和氣泡。 *1:半導體晶圓、掩膜玻璃、硬盤、液晶面板、透鏡等! 日本表面檢查燈 LED超高 亮度光源 鹵素燈

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    2024-01-04

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  • FY-18NH計測網優勢 日本表面檢查燈 目視燈 現貨

    可檢測各種缺陷如半導體晶片芯片和液晶基板的劃痕,不均勻拋光,霧度,表面灰塵,滑移等可照明樣品表面范圍為400,000Lux以上 是一種用于宏觀觀察的照明裝置 高亮度鹵素射鏡 計測網優勢 日本表面檢查燈 目視燈 現貨

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    2024-06-03

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  • FY-18LH手持式 日本表面檢查燈 碳化硅外觀 目視燈

    可檢測各種缺陷如半導體晶片芯片和液晶基板的劃痕,不均勻拋光,霧度,表面灰塵,滑移等可照明樣品表面范圍為400,000Lux以上 是一種用于宏觀觀察的照明裝置 高亮度鹵素射鏡 手持式 日本表面檢查燈 碳化硅外觀 目視燈

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  • YP-150I拋光 碳化硅 日本 表面 檢查燈 尺寸30mm用

    可檢測各種缺陷如半導體晶片芯片和液晶基板的劃痕,不均勻拋光,霧度,表面灰塵,滑移等可照明樣品表面范圍為400,000Lux以上 是一種用于宏觀觀察的照明裝置 高亮度鹵素射鏡 拋光 碳化硅 日本 表面 檢查燈 尺寸30mm用

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