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  • YP-150I日本表面 檢查燈40WLX 強光燈 光斑30mm

    可檢測各種缺陷如半導體晶片芯片和液晶基板的劃痕,不均勻拋光,霧度,表面灰塵,滑移等可照明樣品表面范圍為400,000Lux以上 是一種用于宏觀觀察的照明裝置 高亮度鹵素射鏡 日本表面 檢查燈40WLX 強光燈 光斑30mm

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    2024-01-04

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  • YP-250I表面檢查燈40WLX小王子 強光燈 光斑60mm

    可檢測各種缺陷如半導體晶片芯片和液晶基板的劃痕,不均勻拋光,霧度,表面灰塵,滑移等可照明樣品表面范圍為400,000Lux以上 是一種用于宏觀觀察的照明裝置 高亮度鹵素射鏡 表面檢查燈40WLX小王子 強光燈 光斑60mm

    更新時間

    2024-01-04

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  • YP-250I日本表面檢查燈 小王子 碳化硅 拋光 晶圓

    可檢測各種缺陷如半導體晶片芯片和液晶基板的劃痕,不均勻拋光,霧度,表面灰塵,滑移等可照明樣品表面范圍為400,000Lux以上 是一種用于宏觀觀察的照明裝置 高亮度鹵素射鏡 日本表面檢查燈 小王子 碳化硅 拋光 晶圓

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    2024-01-04

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  • YP-150I日本表面檢查燈 晶圓拋光 碳化硅 強光燈

    可檢測各種缺陷如半導體晶片芯片和液晶基板的劃痕,不均勻拋光,霧度,表面灰塵,滑移等可照明樣品表面范圍為400,000Lux以上是一種用于宏觀觀察的照明裝置 高亮度鹵素射鏡 日本表面檢查燈 晶圓拋光 碳化硅 強光燈

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